QFN104芯片测试座0.35mm间距10x
深圳市鸿怡电子有限公司
主营:ICsocket、IC老化座、IC烧录座
2025/5/7
LCC48-1.0收发光模块测试座支持10G
MSOP10转DIP10老化测试座带板编程烧
QFN88-0.35下压老化座支持V831A
QFN40-0.5微小型测试座支持6x6mm
DFN6-0.65-2x2芯片烧录座用于此类
定制QFJCLCC24带引脚陶瓷芯片载体测试
PLCC28-1.27-12.45x12.4
QFP100-0.65翻盖老化座国产替代本体
WLCSP6-0.4测试座0.792*1.1
DFN8-2.08X8翻盖老化座LFPAKH
BGA77-1.27-15x9翻盖老化座LT
TSSOP14脚芯片测试座IC老化座弹跳座子
QFN48测试座0.5间距7*7翻盖空座弹片
QFP44-0.8下压老化座用于MCUARM
QFN280.5间距(4*4)芯片测试座翻盖