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产品参数 | |||
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TO220/247 ATE测试座用于IGBT芯片final test高速自动化上下料老化 型号 | TO247/TO220自动化测试座 | ||
封装/规格 | 插件 | ||
类型 | DIP | ||
间距 | 5.44/2.72mm | ||
总针脚数 | 3 | ||
触头镀层 | 金 | ||
工作温度范围 | -45~155℃ | ||
包装 | 盒装 | ||
认证机构 | CE | ||
最小包装量 | 1 | ||
封装 | TO | ||
数量 | 1pcs | ||
批号 | 以出货为准 | ||
是否能过大电流 | 付费升级 | ||
品牌 | HMILU |
TO247/220立式芯片测试座
1.引脚:5 Pin;
2.间距:2.72/5.44mm
4.Insulation Resistance:1000MΩ At 500V DC
5.Dielectic Withstanding Voltage:700V AC @ 1Min
6.Contact Resistance:≤50mΩ@10mA/20mV(initial)
7.Temperature:-45~155℃
8.Current Rating:1A Max.