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SPDR介电测试夹具用于测量层状介电材料的复介电常数，包括LTCC衬底以及沉积在低损耗介电衬底上的铁电薄膜；

详细介绍

1、SPDR介电测试夹具应用

QWED SPDR用于测量层状介电材料的复介电常数，包括LTCC衬底以及沉积在低损耗介电衬底上的铁电薄膜；还可用于测量各种导电材料（如商用电阻层，导电聚合物薄膜或高电阻率半导体）的表面电阻和电导率。这种测量仅适用于Rs> 5kΩ/平方的大型表面电阻样品。

2、SPDR介电测试夹具厚度为h的样品的测量精度

Δε/ε=±(0.0015 + Δh/h)  

Δtanδ=±2*10-5 或  ±0.03*tanδ 

3、工作频率范围

QWED SPDR使用特定谐振模式。此模式具有特定的谐振频率，具体取决于谐振器的尺寸，但在某种程度上还取决于被测样品的电特性。因此，每个设计的谐振器都只能用于特定的标称频率，并且实际测量是在接近标称频率的频率上进行的。

QWED SPDR基本的标称频率为：1.1 GHz，1.9 GHz，2.45 GHz，5 GHz，10 GHz和15 GHz。可以根据特殊要求制造其他频率在1.1至15 GHz之间的谐振器。

4、工作温度范围

-2700C 至 1100C

5、测量所需的其他设备

微波频率Q表或矢量网络分析仪

6、测量步骤

可测量空谐振器和带有研究样本的谐振器的谐振频率和Q因子。提供了软件来确定介电常数和介电损耗正切。配备安捷伦科技的PNA / ENA系列网络分析仪（带有Option 300的85071E材料测量软件）的用户，只需将QWED应用程序上载到网络分析仪中，并直接在其显示屏上获得终结果。

使用不同网络分析仪的用户需要在标准PC计算机或网络分析仪（如果装有Windows®操作系统）上安装用于介电特性计算的软件。

7、其他

样本的小大小取决于谐振器的工作频率。以下给出了谐振器常用工作频率对应的小样本尺寸。

根据工作频率确定的小样本尺寸

标称频率 [GHz]	样品的小尺寸/直径 [mm]	样品的推荐尺寸 [mm]	样品的大宽度 [mm]	样品的大厚度 [mm]
1.1	120×120 / 120	130×180	150	6.0
1.9	70×70 / 70	70×100	100	4.1
2.45 / 2.5	55×55 / 55	70×80	100	3.1
5 / 5.1	30×30 / 30	40×50	90	1.95
10	22×22 / 22	30×50	90	0.95
15	14×14 / 14	20×30	40	0.6