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商品详情
日本ae-mic阻抗测量仪
低等效串联电阻和100kHz低阻抗的高度稳定，高精度和高速测量
低ESR /低阻抗测量范围[100mΩ?100Ω]
最小分辨率：10μΩ[ESR]
可以通过接触检查来监视探针接触的接触状态
10999测量值显示
比较器/触点错误结果是集电极开路输出，LED显示
低等效串联电阻和100kHz低阻抗的高度稳定，高精度和高速测量
低ESR /低阻抗测量范围[100mΩ?100Ω]
最小分辨率：10μΩ[ESR]
可以通过接触检查来监视探针接触的接触状态
10999测量值显示
比较器/触点错误结果是集电极开路输出，LED显示
GP-IB / RS-232C / Centronics打印机输出[选件]
日本ae-mic阻抗测量仪
| 测量范围 | 测量范围 | 解析度 | 实测电流 | ESR精度 | Z精度 |
|---|---|---|---|---|---|
| 100毫欧 | 0.00mΩ至109.99mΩ | 0.01毫欧 | 100毫安 | 读数的±0.5％内±10位±100μΩ | 读数的±1％内±10位±100μΩ |
| 1Ω | 0.0mΩ至1099.9mΩ | 0.1毫欧 | 10毫安 | 读数的±0.5％以内±10位数字 | 读数的±1％以内±10位数字 |
| 10Ω | 0.000Ω至10.999Ω | 1毫欧 | 1毫安 | ||
| 100Ω | 0.00Ω至109.99Ω | 10毫欧 | 0.1毫安 |
*上述精度是预热时间为30分钟或更长时间后准确进行调零的精度。
| 测量频率 | 100kHz±0.1％，正弦波形 |
|---|---|
| 测量方式 | 5端子测量[可进行接触检查] |
| 测量时间 | [自由运行]快速：大约10次/秒慢速：2.5次/秒[标准设置] |
| [外部启动] [ESR]大约（4.2 + N）x 2毫秒[N =快速：1?99] /慢速：[4 +电源循环x 1?9] x 2毫秒。 | |
| （1毫秒。用于检查） | |
| [外部启动] [Z]大约（3.5 + N）x 3毫秒[N =快速：1?99] /慢速：[3.5 +电源循环x 1?9] x 3毫秒。 | |
| （1毫秒。用于检查） | |
| 比较器设定范围 | HI和LO均为0至9999 |
| 控制信号 | 测量开始信号：以“ L” [0V]→“ H” [DC12V]开始 |
| 保持信号：断开，“ H” [DC12V]：自由运行，“ L” [0V]：保持 | |
| 判断结果信号[LO / GO / HI]：集电极开路输出醉大40V，100mA | |
|
接触错误[CONT-E]： 集电极开路输出醉大40V，100mA |
|
| 测量结束信号[EOC]：集电极开路输出醉大40V，100mA | |
| 周边环境 | 温度：5℃?+ 50℃湿度：85％以下 |
| 需要电源 | AC85V-265V，50-60HZ，约30VA |
| 外形尺寸 | 333（W）x 99（H）x 300（D）mm（不包括橡胶脚等突起） |
| 重量 | 约4kg |
| 选项 | ? RS-232C |
* 只能 内置这些选项之一。 |
|---|---|---|
| ? GP-IB | ||
| ?打印机输出（Centronics） | ||
| ?打印机电缆 | ||
| 100kHz短端接（零欧姆标准电阻器） | ||
*规格如有变更，恕不另行通知。
日本ae-mic阻抗测量仪
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