日本napson2探针法扩散电阻测试仪
日本napson2探针法扩散电阻测试仪
产品价格:¥10.00(人民币)
  • 供应数量:999
  • 发货地:广东-深圳市
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    商品详情
      日本napson2探针法扩散电阻测试仪
      可以获得样品的深度方向上的电阻分布,外延层的厚度,PN结的深度以及载流子浓度分布。
      可以从几平方毫米的区域分析几百微米的图案区域。

      根据测得的扩展电阻,使用校准曲线计算电阻

      日本napson2探针法扩散电阻测试仪

       

      测量规格

      测量目标

      与半导体/太阳能电池相关的材料(硅,多晶硅,SiC等)

      测量尺寸

      *请联系我们。

      测量范围

      1-10E + 9(Ω)[扩展电阻]

      施加电压:10(mV)检测电流:10(pA)至10(mA)

      测量规格

      测量目标

      与半导体/太阳能电池相关的材料(硅,多晶硅,SiC等)

      测量尺寸

      *请联系我们。

      测量范围

      1-10E + 9(Ω)[扩展电阻]

      施加电压:10(mV)检测电流:10(pA)至10(mA)

      测量规格

      测量目标

      与半导体/太阳能电池相关的材料(硅,多晶硅,SiC等)

      测量尺寸

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      测量范围

      1-10E + 9(Ω)[扩展电阻]

      施加电压:10(mV)检测电流:10(pA)至10(mA)

      测量规格

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      与半导体/太阳能电池相关的材料(硅,多晶硅,SiC等)

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      *请联系我们。

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      1-10E + 9(Ω)[扩展电阻]

      施加电压:10(mV)检测电流:10(pA)至10(mA)

      测量规格

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      与半导体/太阳能电池相关的材料(硅,多晶硅,SiC等)

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      *请联系我们。

      测量范围

      1-10E + 9(Ω)[扩展电阻]

      施加电压:10(mV)检测电流:10(pA)至10(mA)

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      测量目标

      与半导体/太阳能电池相关的材料(硅,多晶硅,SiC等)

      测量尺寸

      *请联系我们。

      测量范围

      1-10E + 9(Ω)[扩展电阻]

      施加电压:10(mV)检测电流:10(pA)至10(mA)

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