设备简介

日本电子JEM-2100F透射（TEM-UHR型）

配有扫描透射（STEM）装置，能量色散X射线光谱仪（EDS）装置和CCD相机

设备技术参数：

电子枪加速电压：最高200KV

放大倍数：20000-1500000； 放大倍数误差≤±10%；

分辨率：点分辨率：0.19nm；  晶格分辨率：0.1nm；

             扫描透射分辨率: 0.20nm。

制样设备：

1.Tenupol-5电解双喷减薄仪；

2.PIPS II695精密离子减薄仪；

3.IsoMet 4000精密切割机

应用领域

   用于合金、半导体、纳米粉末、涂层等先进材料的研究，能在原子尺度上表征他们的显微组织形貌和微观结构，探索材料微观世界的奥妙，并能对内部的不同物相进行电子衍射分析，确定其晶体结构，同时还可以对材料的化学成分进行定性和半定量分析。